看视频时,我们像被堵住了嘴,我想说话,我想不阴阳怪气的说话,我不想跪下当狗,我想站起来做人
【ROLL】EPOMAKER身为出海的黑马,我个人感觉确实质感很高,尤其是香槟金这个配色,很有质感,轴体手感也不错,值得入的,就是价格偏贵了点。距离抽奖视频还剩4期视频,大家给我点点关注吧 辛苦点点 ,关注我越早的粉丝中奖概率越高。辛苦一键三连 谢谢 !!!!!
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转型起步0402040 半导体前段量测哪些参数? ✨ 晶圆良率的守护者──解密半导体前段制程的关键量测参数 📌 本次课程介绍(含中英文字幕 Chinese & English Subtitles) 一片晶圆历经上千道工序,在它成为具备电性功能的芯片前,我们如何确保每一步都精准无误?本课程将带您深入半导体前段制程的质量核心,揭示那些在产品诞生前,默默守护良率的关键量测参数。 您将了解,前段制程的质量监控,重点在于「物理量测」而非「电性测试」。从薄膜厚度、线路宽度到层层对准的精度,再到无所不在的微尘颗粒,这些数据是洞察制程稳定性的第一线情报,也是日后良率分析的基石。 ✅ 本堂课将带你深入了解: 量测 vs. 测试:厘清前段制程中「物理量测」(In-Process Measurement) 与最终「电性测试」(WAT, CP, FT) 的根本差异与目的。 五大模块关键参数:认识各核心制程(薄膜、扩散、蚀刻、黄光、研磨)所对应的关键量测项目,如膜厚 (Thickness)、线宽 (CD) 与迭对精度 (Overlay)。 量测位置的秘密:了解为何量测点通常位于晶粒间的「街道 (Scribe Line)」上的测试图样 (Test Key),而非直接量测客户的产品本身。 良率杀手—缺陷微粒:探讨 Particle (微尘颗粒) 对先进制程的致命影响,以及 Defect 量测在质量控管中的重要角色。 抽检与全检的策略:理解为何前段制程(In-process QC, WAT)多采「抽样检测」,而后段测试 (CP, FT) 则需进行「全检」,以确保最终产出的质量。 📘 本课程适合: 刚进入半导体领域的制程、整合与良率分析工程师 负责数据收集与质量监控的 CIM / MES 系统开发人员 希望了解客户质量要求的半导体设备或材料供货商 对高阶制造质量管理与数据应用有浓厚兴趣的学习者 💡 建议搭配观看: 0402010|为何12吋厂对 CIM 要求特别高 0402020|电子制造业全制程简介 0402030|半导体前段是电子业吗?
最近有朋友吐槽刷到很多移动19元235G流量卡的虚假广告,大家擦亮眼睛。 移动不缺新用户,所以推出大流量卡不积极,2年来我也没看到过这种配置的移动卡,提醒大家避坑。 流量不够用的朋友戳这:https://b23.tv/mall-GFCKojpi0-75EM5 都是我实测过的,确保套餐真实好用,可以放心入 部分卡品只发个别省份,每张卡审核条件不一样,如果申请不了A卡,可换B卡申请
纯整活 家人们,有人想了解魔灯固件嘛,人多的花就出一期教程
刚刚起步 暂时不太忙 先做好内勤吧 喜欢视频记得一键三连哦~
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“别眨眼!三秒以后会很绝~”
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