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今天得到一个非常难得的机会在发售前提前带大家来看看苹果今年刚刚发布的全系列新品体验如何？甚至还有大陆地区还没有正式发售的iPhone Air，我作为一个以前每年都用Pro的用户，今年iPhone 17标准版都上了高刷，价格还便宜我是真打算直接购入标准版了，今天去看看买哪个配色，手感如何？正好也给大家一些购买建议！
运动相机：你清高，你了不起
转型起步0402040 半导体前段量测哪些参数？ ✨ 晶圆良率的守护者──解密半导体前段制程的关键量测参数 📌 本次课程介绍（含中英文字幕 Chinese & English Subtitles） 一片晶圆历经上千道工序，在它成为具备电性功能的芯片前，我们如何确保每一步都精准无误？本课程将带您深入半导体前段制程的质量核心，揭示那些在产品诞生前，默默守护良率的关键量测参数。 您将了解，前段制程的质量监控，重点在于「物理量测」而非「电性测试」。从薄膜厚度、线路宽度到层层对准的精度，再到无所不在的微尘颗粒，这些数据是洞察制程稳定性的第一线情报，也是日后良率分析的基石。 ✅ 本堂课将带你深入了解： 量测 vs. 测试：厘清前段制程中「物理量测」(In-Process Measurement) 与最终「电性测试」(WAT, CP, FT) 的根本差异与目的。 五大模块关键参数：认识各核心制程（薄膜、扩散、蚀刻、黄光、研磨）所对应的关键量测项目，如膜厚 (Thickness)、线宽 (CD) 与迭对精度 (Overlay)。 量测位置的秘密：了解为何量测点通常位于晶粒间的「街道 (Scribe Line)」上的测试图样 (Test Key)，而非直接量测客户的产品本身。 良率杀手—缺陷微粒：探讨 Particle (微尘颗粒) 对先进制程的致命影响，以及 Defect 量测在质量控管中的重要角色。 抽检与全检的策略：理解为何前段制程（In-process QC, WAT）多采「抽样检测」，而后段测试 (CP, FT) 则需进行「全检」，以确保最终产出的质量。 📘 本课程适合： 刚进入半导体领域的制程、整合与良率分析工程师 负责数据收集与质量监控的 CIM / MES 系统开发人员 希望了解客户质量要求的半导体设备或材料供货商 对高阶制造质量管理与数据应用有浓厚兴趣的学习者 💡 建议搭配观看： 0402010｜为何12吋厂对 CIM 要求特别高 0402020｜电子制造业全制程简介 0402030｜半导体前段是电子业吗？
开学季即将来临，想必小伙伴们已经准备好自己的电脑了吧，不知道各位准备的电脑内存够不够呢？现在的笔记本厂商都喜欢制作一些1T甚至512G的硬盘空间，几乎完全不够用，那这个时候就需要一个硬盘来帮助你缓解内存不足压力了。最近看到了一款新出的硬盘——闪迪的蓝盘 SN5100 通过使用和体验闪迪WD BLUE SN5100这款AI运算和创作固态硬盘的性能是真的很不错，7150MB/s的传输速度 ，2TB，用于升级笔记本、主机是非常不错的，若是你预算不高当主硬盘也是可以的，毕竟是中端PCIE4.0固态，比那些入门级PCIE4.0固态强上很多。整体上我是非常推荐这款闪迪WD BLUE SN5100款AI运算和创作固态硬盘的！
本期摄影师：Nanda Moira Hagenaars bgm:something about her 欢迎关注公众号【視野記】 搜索了解更多艺术家相关内容！
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“别眨眼！三秒以后会很绝~”
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